bioRxiv · 脑电与神经科学预印本· Ingram, B. T., Waggoner, R. A., Uji, M., Ueno, K., Suzuki, C., Sato, F., Li, X., Mayhew, S. D., Bagshaw, A. P., Tamaki, M., Mullinger, K. J. ·· 2 天前AI 评分57
同步EEG-fMRI中梯度致EEG硬件发热风险的评估与缓解
Reducing the Risk of Gradient Induced EEG Hardware Heating During Simultaneous EEG-fMRI
AI 导读
一项预印本研究评估了将EEG放大器和电源包按现行指南置于磁体孔内时梯度磁场导致的发热风险，在7T和3T均发现明显升温。7T下EPI序列切换率不低于88 T/m/s时放大器显著发热，降至61 T/m/s可消除；3T下将EEG硬件与磁体等中心的距离增加30厘米也可无论序列参数如何都缓解发热风险。
来源：bioRxiv · 脑电与神经科学预印本 · biorxiv.org